當氣密性檢漏儀測試完成后，排出產(chǎn)品內部的氣體將產(chǎn)品和密封工裝上的部分溫度帶走。

若立即用氣密性檢漏儀對同一產(chǎn)品進(jìn)行二次試驗，會(huì )出現產(chǎn)品內部氣體溫度先降后穩壓后回復升高的狀態(tài)，這會(huì )導致在測試階段內腔內壓力有微小上升的狀態(tài)，將抵消部分原有的泄漏量。

在對同一產(chǎn)品進(jìn)行重復測試時(shí)，兩個(gè)測試之間需要有足夠的時(shí)間間隔，以使產(chǎn)品回復到正常測試狀態(tài)，每一個(gè)測試間隔時(shí)間是一致的。當使用氣密性檢漏儀進(jìn)行重復測試時(shí)，可以選擇多個(gè)產(chǎn)品循環(huán)測試的方式。

在真空環(huán)境中，不受溫度變化的影響？試驗誤差隨試驗壓力的加大而加大。試驗壓力越接近真空，誤差越小。

如果實(shí)際溫度是穩定的，則不同的溫度環(huán)境對試驗結果的影響不大，例如溫度環(huán)境差5℃之間的差異大約在5/(273+20)=1.7%。而且如果在測試過(guò)程中發(fā)生溫度變化，對測試結果有很大的影響！

氣體分子在充氣過(guò)程中摩擦產(chǎn)生熱量，根據氣體方程式PV=NRT，可知會(huì )使試驗腔內壓力升高，當充氣結束時(shí)溫度又會(huì )慢慢恢復到正常的室溫，所以充氣結束后的穩定壓時(shí)間如果不夠充分，即到測試階段腔體內部溫度仍處于下降的回復期，則由此導致的壓力下降將直接反映到氣密性檢漏儀所測試的泄漏量中。

具有較高溫度的工件在進(jìn)行測試時(shí)，會(huì )對充氣進(jìn)行較長(cháng)時(shí)間的加熱，在測試過(guò)程中產(chǎn)品內部的氣壓不會(huì )下降反升，測試結果為負值。

如果是直接在低溫環(huán)境下進(jìn)行高溫環(huán)境試驗的產(chǎn)品，氣密性檢漏儀因溫度和測試時(shí)間的不同，可能會(huì )出現泄漏量變大的情況，也可能出現不同的測試負值現象。

岳信儀器-專(zhuān)注于氣密性檢漏儀的研發(fā)和生產(chǎn)，期待與您的每一次溝通。

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